모델명 : KP-300
Automatic Wafer Probing Machine
주요 기능 개요
자동화에 적합한 탑 로더 방식채택 (AGV/OHT)
크고 무거운 프로브 카드와 호환 가능한 고강성 구조의 프로브 카드 체인저 장착
프로브 카드와 웨이퍼 간의 균일한 Contact을 위한 오토 틸트 기능 장착가능
신뢰할 수 있는 온도 제어 및 우수한 방열
강력한 프로빙을 위한 견고한 Z축 구조 및 시스템 구비
모든 유형의 테스터와 호환 가능
기본 교육만으로 장비 운용이 가능한 프로그램 구성
“Logic, LDI, Memory, DRAM, HBM 등의 제품군에 대응 가능“
Model Name | KP-300 |
Wafer Size | 8 & 12inch |
Dimension | 1,590(W) x 1,790(D) x 1,400(H) mm |
Probing Area | XY: ±170mm |
Probing Force | 400Kgf (Option: 800Kgf) |
Contact Accuracy | ±1.2um or less |
Temperature | Standard : Room temperature to 150℃ |
Option : -40℃, Ambient 25℃ |
(주)쌤토스
주소 :경기도 성남시 중원구 사기막골로 99,
센트럴비즈타워2차 A동 613호 (우)13201
TEL : 031)339-5889 | FAX : 031-339-5883
Copyright ⓒ 2023 SEMTOS All rights reserved.
주소 : 경기도 성남시 중원구 사기막골로 99, 센트럴비즈타워2차 A동 613호 (우)13201
TEL : 031)789-6930 | FAX : 031-789-6931
Copyright ⓒ 2023 SEMTOS All rights reserved.