모델명 : KP-300

Automatic Wafer Probing Machine


주요 기능 개요


  자동화에 적합한 탑 로더 방식채택 (AGV/OHT)

  크고 무거운 프로브 카드와 호환 가능한 고강성 구조의 프로브 카드 체인저 장착

  프로브 카드와 웨이퍼 간의 균일한 Contact을 위한 오토 틸트 기능 장착가능

  신뢰할 수 있는 온도 제어 및 우수한 방열

  강력한 프로빙을 위한 견고한 Z축 구조 및 시스템 구비

  모든 유형의 테스터와 호환 가능

  기본 교육만으로 장비 운용이 가능한 프로그램 구성

  “Logic, LDI, Memory, DRAM, HBM 등의 제품군에 대응 가능“

제품 규격 개요

Model Name
KP-300
Wafer Size
8 & 12inch
Dimension
1,590(W) x 1,790(D) x 1,400(H) mm
Probing Area
XY: ±170mm
Probing Force
400Kgf (Option: 800Kgf)
Contact Accuracy
±1.2um or less
Temperature
Standard : Room temperature to 150℃

Option : -40℃, Ambient 25℃

(주)쌤토스


주소 :경기도 성남시 중원구 사기막골로 99, 

센트럴비즈타워2차 A동 613호 (우)13201

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